G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析

 

·  2010年11月9日消息，光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。

　　而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该选的与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。

　　大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此，掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。

　　一、两种宏弯损耗测试方法的比较

 

　　图为 两种宏弯损耗测试方法示意图

　　用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。

整体数据汇总图形如下：

　　从整体数据汇总图可看出Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小，且数据相对稳定，重复性好。当然所抽样 品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的；还有1个样品在 1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。

　　10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大，处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。

　　在测试过程中，Φ32mm*1宏弯测试方法易于操作，能减少测试误差，根据GB/T9771.3-2008宏弯损耗的说明，认为Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。

　　而Φ60mm*100作为标准明确规定一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良，如，保证光纤以尽可能一致的直径、适宜的张力缠绕100圈。

　　二、宏弯与截止波长的关系

　　为更好的摸索宏弯损耗与截止波长的关系，随机抽取760个样品进行实验，实验数据如图1、图2：

 

图1：1550nm宏弯损耗与截止波长分布

 

图2：1625nm宏弯损耗与截止波长分布

　　由图1可明显看出1625nm的数据较1550nm窗口下宏弯损耗分散，实际数据证实长波长对弯曲的敏感程度更甚。

　　由图2可看出1625nm宏弯损耗相对集中时对应的截止波长也相对集中分布在1210nm-1290nm，截止波长越小，宏弯损耗越大，且分布散乱无规律。

　　通过以上分析，可以看出截止波长对宏弯损耗有一定的影响，当截止波长分布在1210nm-1290nm范围内时，1550nm、1625nm窗口下宏弯损耗相对集中，数据稳定，这为我们优化工艺改善宏弯损耗提供了有利的数据依据。

　　三、结论

　　1、Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。

　　2、而Φ60mm*100作为标准明确规定的一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良。

　　3、大量实践数据验证了截止波长与宏弯损耗存在相关性。

 

    我的问题是：对于G652D光纤，是否也可以用Φ32mm*1圈，波长为1310nm，损耗＜0.1dB来判断光纤宏弯性能呢？（回答：可以。）而对于 G657A1光纤，又应该是什么来判断其宏弯性能呢？是否为Φ10mm*1圈，波长为1310nm，损耗＜0.05dB？（回答：损耗大小有待考察。但根 据2009-ITU-T标准，直径为15mm，绕一圈，1550nm，最大损耗为0.5dB）。具体见博文《光纤类型》。

    有次为了辨别是G652D纤还是G657A1纤（为900um光缆），我的做法是：用Φ12mm*3圈，监控波长为1310nm，当损耗＞0.1dB时 （一般变化0.2~0.3dB），判断为G652D纤；当损耗＜0.1dB时（一般变化在0.05dB内），判断为G657A1纤。经过验证，这样判断是 正确的。