G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析
G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析
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而注2中描述:为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度,可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验,在此情况下,绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该选的与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。
大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准,然而,在日常的测试工作中,若要采用方便快捷的实验方法,则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此,掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。
一、两种宏弯损耗测试方法的比较
图为 两种宏弯损耗测试方法示意图
用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。
整体数据汇总图形如下:
从整体数据汇总图可看出Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小,且数据相对稳定,重复性好。当然所抽样 品也不是完全都遵循此规律,10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的;还有1个样品在 1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。
10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大,处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。
在测试过程中,Φ32mm*1宏弯测试方法易于操作,能减少测试误差,根据GB/T9771.3-2008宏弯损耗的说明,认为Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。
而Φ60mm*100作为标准明确规定一种方法,其准确性的提高需依赖于测试装置的改良,如,保证光纤以尽可能一致的直径、适宜的张力缠绕100圈。
二、宏弯与截止波长的关系
为更好的摸索宏弯损耗与截止波长的关系,随机抽取760个样品进行实验,实验数据如图1、图2:
图1:1550nm宏弯损耗与截止波长分布
图2:1625nm宏弯损耗与截止波长分布
由图1可明显看出1625nm的数据较1550nm窗口下宏弯损耗分散,实际数据证实长波长对弯曲的敏感程度更甚。
由图2可看出1625nm宏弯损耗相对集中时对应的截止波长也相对集中分布在1210nm-1290nm,截止波长越小,宏弯损耗越大,且分布散乱无规律。
通过以上分析,可以看出截止波长对宏弯损耗有一定的影响,当截止波长分布在1210nm-1290nm范围内时,1550nm、1625nm窗口下宏弯损耗相对集中,数据稳定,这为我们优化工艺改善宏弯损耗提供了有利的数据依据。
三、结论
1、Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。
2、而Φ60mm*100作为标准明确规定的一种方法,其准确性的提高需依赖于测试装置的改良。
3、大量实践数据验证了截止波长与宏弯损耗存在相关性。